【原创】​泰瑞达谈芯片测试新趋势,UltraFLEXplus解锁芯片测试新姿态

近日,在泰瑞达(TERADYNE)的媒体沟通会上,泰瑞达中国区销售副总经理黄飞鸿为媒体们回顾了芯片测试设备的发展历史,并对其未来做出了展望。

UltraFLEXplus:解锁芯片测试新姿态

近年来,5G技术已进入爆发期,人工智能技术初露锋芒,物联网、智能家具设备也逐步进入大众的视野中,各种新应用的兴起也推动了半导体市场的蓬勃发展,整体芯片需求呈现爆发增长的态势。在供不应求的缺芯大环境下,使晶圆产能急剧扩张,包括ATE在内的半导体设备总需求量也随之增加。

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