本文章介绍一种新型片内采样速率转换技术，其用在核心ADC的输出上，允许信号链设计人员以应用所需的采样速率处理ADC数字输出数据。

本文重点介绍新型连续时间Sigma-Delta (CTSD)精密ADC最重要的架构特性之一：轻松驱动阻性输入和基准电压源。

本文比较了现有精密ADC架构的混叠抑制解决方案背后的设计复杂性。我们将阐述一个理论，以此说明CTSD ADC架构本身固有的混叠抑制性能。我们还展示如何简化信号链设计，并探讨CTSD ADC的扩展优势。最后，我们将介绍新的测量和性能参数，以量化混叠抑制。