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西门子推出 Tessent In-System Test，在硅片全生命周期内实现先进的确定性测试

winniewei -- 周二, 11/12/2024 - 14:06

西门子数字化工业软件日前推出 Tessent™ In-System Test 软件，作为一款突破性的可测试性设计 (DFT) 解决方案，旨在增强下一代集成电路 (IC) 的系统内测试能力。

winniewei -- 周四, 10/19/2023 - 11:47

西门子数字化工业软件近日推出 Tessent™ RTL Pro 创新软件解决方案，旨在帮助集成电路 (IC) 设计团队简化和加速下一代设计的关键可测试性设计 (DFT) 任务。

cathy -- 周四, 10/12/2023 - 10:46

10月20日晚19点，我们特别邀请到无锡玖熠半导体科技有限公司产品市场总监赵瑜斌、广东利扬芯片测试股份有限公司董事/总经理亦锋做客贸泽电子芯英雄联盟直播间，与大家围绕“芯片测试和DFT”展开讨论，欢迎预约围观！

cathy -- 周日, 10/08/2023 - 15:35

winniewei -- 周五, 12/24/2021 - 10:48

可测性设计（DFT）本质上是设计过程中的一个步骤，在这个过程中测试功能会被添加到硬件里。虽然这些功能对性能提升来说不是必须的，但作为测试制造过程的关键一步，它们确保了芯片在产品中能够正常运行。